板厚≤20mm雙晶直探頭試塊
上海雙旭板厚≤20mm雙晶直探頭試塊
產(chǎn)品概述
該試塊專為校準和測試用于檢測薄板材料（厚度≤20mm）的雙晶直探頭而設(shè)計。它采用特定材料精密加工而成，用于驗證探頭的入射點、折射角、分辨力以及距離-波幅曲線等關(guān)鍵性能指標，確保超聲波檢測的準確性與可靠性。
產(chǎn)品參數(shù)
- 適用板厚范圍：≤ 20毫米
- 試塊材料：通常為鋼或其他標準校準材料
- 標準反射體：包含橫孔、平底孔或凹槽等
- 主要用途：校準雙晶直探頭的聲束特性、靈敏度及線性
- 執(zhí)行標準：通常符合JB/T 10061、GB/T 18852或相關(guān)行業(yè)標準
- 尺寸：具體尺寸根據(jù)型號而定，通常為緊湊型長方體
- 表面光潔度：高精度加工，確保反射信號清晰
使用注意事項
- 清潔維護：使用前后需清潔試塊表面，防止污物影響聲波耦合與反射。
- 輕拿輕放：避免磕碰或跌落，防止產(chǎn)生劃痕或損傷，影響校準精度。
- 耦合劑：使用時需施加適量耦合劑（如機油、甘油），確保探頭與試塊良好接觸。
- 環(huán)境條件：應(yīng)在溫度、濕度適宜的環(huán)境下使用，避免極端條件影響材料性能。
- 定期檢定：試塊本身需定期送檢，以確保其作為計量基準的準確性。
- 專用性：此試塊主要針對板厚≤20mm的雙晶探頭校準，不適用于其他類型探頭或厚板校準。
- 存儲：存放于干燥、無腐蝕性氣體的環(huán)境中，建議涂抹防銹油并妥善包裝。
|
