ZDM-I-5 電容薄膜真空計
上海雙旭ZDM-I-5 電容薄膜真空計
產(chǎn)品概述
上海雙旭ZDM-I-5為電容薄膜式真空計，基于金屬薄膜電容器在壓力作用下形變引起電容值變化的原理實現(xiàn)真空度測量。適用于低至中真空范圍精確檢測，常用于科研、半導(dǎo)體制造、真空鍍膜及工業(yè)真空系統(tǒng)監(jiān)控。
產(chǎn)品參數(shù)
- 測量范圍：1×105 Pa ~ 1×10-1 Pa（可擴展至1×10-2 Pa）
- 精度等級：±(0.5%讀數(shù)+0.2%滿量程)（在恒溫條件下）
- 分辨率：1×10-3 Pa（在10-1~102 Pa區(qū)間）
- 響應(yīng)時間：≤200 ms（典型值，隨壓力變化）
- 工作溫度：0℃ ~ +50℃；存儲溫度：-20℃ ~ +70℃
- 供電電壓：DC 24V ±10%，功耗≤2W
- 輸出信號：4~20 mA（兩線制）/ RS485（可選）
- 壓力接口：KF16、KF25或CF法蘭（可選）
- 防護等級：IP65（傳感器部分），儀表殼體IP54
- 零點漂移：≤±0.05% FS/月
- 重復(fù)性：≤±0.2% FS
結(jié)構(gòu)與工作原理
ZDM-I-5核心為彈性金屬薄膜，兩側(cè)分別形成固定電極與可動電極構(gòu)成電容器。當(dāng)真空度變化，薄膜受氣體壓力作用產(chǎn)生微小位移，改變極板間距，從而電容值變化。電路將電容變化轉(zhuǎn)換為標(biāo)準(zhǔn)電流或數(shù)字信號輸出。傳感器采用溫度補償結(jié)構(gòu)，降低環(huán)境溫度對測量的影響。
性能特點
- 全量程線性度好，適合連續(xù)監(jiān)測與過程控制
- 抗過載能力強，短時間可承受大氣壓沖擊
- 支持多種安裝接口，適配不同真空系統(tǒng)
- 模擬與數(shù)字雙輸出，便于集成自動化系統(tǒng)
- 長期穩(wěn)定性高，適合無人值守場合
使用注意事項
- 安裝前檢查傳感器外觀無損傷，連接法蘭密封面清潔無顆粒
- 避免在高粉塵、強腐蝕性氣體環(huán)境直接使用，必要時加過濾或隔離裝置
- 通電前確認(rèn)供電電壓符合DC 24V±10%，防止過壓損壞電子單元
- 傳感器不可暴露于超過大氣壓力的環(huán)境超過規(guī)定時間，防止薄膜永久變形
- 首次使用或更換介質(zhì)后需進行零點校準(zhǔn)，尤其在測量氣體種類變化時
- 定期清潔壓力接口及膜片周圍，防止污染物附著影響靈敏度
- 輸出信號電纜應(yīng)屏蔽并遠(yuǎn)離動力線布置，減少電磁干擾
- 長期停用應(yīng)斷電并存放在干燥潔凈環(huán)境，避免受潮導(dǎo)致絕緣性能下降
- 嚴(yán)禁敲擊或劇烈振動傳感器，以免破壞薄膜機械結(jié)構(gòu)
- 若測量介質(zhì)含油蒸氣或顆粒物，應(yīng)在前端加裝冷阱或過濾器保護傳感器
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