UM-1D穿透涂層測(cè)厚儀參數(shù)【上海雙旭】

上海雙旭UM-1D穿透涂層測(cè)厚儀

產(chǎn)品參數(shù)

• 測(cè)量原理：磁感應(yīng)/渦流
• 測(cè)量模式：穿透涂層模式（可測(cè)量帶漆、塑料等覆蓋層的鐵基或非鐵基金屬基材厚度）
• 測(cè)量范圍：通常為0~2000μm（具體視基材和涂層情況而定）
• 基材類型：鐵基（磁性金屬）或非鐵基（如鋁、銅、不銹鋼等非磁性金屬）
• 精度：±(1~3%H+1)μm（H為測(cè)量值，具體精度取決于工況和校準(zhǔn)）
• 最小曲率：凸面：5mm；凹面：25mm（近似值）
• 最小面積：直徑約20mm
• 最小基材厚度：鐵基0.2mm，非鐵基0.05mm
• 顯示：LCD液晶顯示屏
• 單位：mm/inch可選
• 校準(zhǔn)：零點(diǎn)校準(zhǔn)和多點(diǎn)校準(zhǔn)
• 電源：AA電池
• 工作溫度：0℃~40℃
• 存儲(chǔ)溫度：-20℃~70℃

使用注意事項(xiàng)

• 表面清潔：測(cè)量前需確保涂層表面清潔，無(wú)附著物、灰塵、油污及腐蝕物。
• 基材確認(rèn)：必須明確基材類型（鐵基或非鐵基），并選擇儀器對(duì)應(yīng)模式。
• 校準(zhǔn)：使用前應(yīng)在無(wú)涂層的同質(zhì)基材上進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn)，并建議使用標(biāo)準(zhǔn)片進(jìn)行多點(diǎn)校準(zhǔn)以保證精度。
• 測(cè)量壓力：探頭應(yīng)垂直、平穩(wěn)接觸被測(cè)表面，保持恒定適度壓力，避免傾斜或晃動(dòng)。
• 邊緣效應(yīng)：測(cè)量點(diǎn)應(yīng)遠(yuǎn)離邊緣、孔洞、焊縫或形狀突變處，一般需保持距離大于20mm。
• 曲率與厚度：在強(qiáng)彎曲或極薄基材上測(cè)量時(shí)，精度可能下降，需根據(jù)手冊(cè)進(jìn)行補(bǔ)償或評(píng)估。
• 溫度穩(wěn)定性：避免在溫度劇烈變化或極端環(huán)境下使用，以免影響電子元件穩(wěn)定性。
• 探頭保護(hù)：避免探頭受到劇烈撞擊或磨損，使用后清潔探頭表面。
• 電池管理：長(zhǎng)期不使用應(yīng)取出電池，防止漏液損壞儀器。
• 干擾物：測(cè)量區(qū)域附近應(yīng)避免強(qiáng)磁場(chǎng)、強(qiáng)電場(chǎng)或其他電子設(shè)備干擾。

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