型號UM-4 A掃描快照超聲波測厚儀價格
上海雙旭UM-4 A掃描快照超聲波測厚儀
產(chǎn)品概述
UM-4是一款集A掃描波形顯示與厚度測量于一體的便攜式超聲波測厚儀。其A掃描快照功能允許用戶觀察超聲波回波波形，有助于判斷耦合狀況、識別分層或腐蝕，并進行更精確的測量，特別適用于復雜工況和材料。
產(chǎn)品參數(shù)
- 測量范圍：0.75mm ~ 300mm（鋼，取決于探頭和材料）
- 顯示分辨率：0.01mm / 0.1mm
- 測量精度：±（0.5%H+0.05）mm，H為厚度值
- 聲速范圍：1000 ~ 9999 m/s
- 顯示方式：高對比度LCD，同時顯示厚度值、聲速、A掃描波形、電池電量等
- A掃描快照：可凍結并觀察回波波形，輔助判斷測量狀態(tài)
- 探頭類型：支持單晶、雙晶探頭（標配一般為5MHz雙晶探頭）
- 校準方式：兩點校準，可校準聲速和零位
- 數(shù)據(jù)存儲：通常具備分組存儲功能（具體容量需確認）
- 電源：AA電池或可充電電池
- 工作溫度：-10℃ ~ +50℃
- 外殼：工程塑料，防油防塵設計
使用注意事項
- 表面準備：測量表面必須清潔，去除銹跡、油漆、涂層及松散附著物，確保探頭與被測物良好耦合。
- 耦合劑：必須使用足量合適的耦合劑（如甘油、機油、專用耦合膏），以排除空氣間隙。
- 探頭選擇與校準：根據(jù)材料厚度、曲率和溫度選擇合適的探頭。測量前必須在相同材質(zhì)、已知厚度的試塊上或使用標準厚度片進行校準。
- A掃描功能應用：當測量值不穩(wěn)定或懷疑有內(nèi)部缺陷時，使用A掃描快照功能觀察回波波形。主回波應清晰、陡直，雜波少。
- 測量技巧：保持探頭穩(wěn)定垂直于測量面，施加適當且恒定的壓力。對于曲面或高溫工件，需使用專用探頭或延遲塊。
- 溫度影響：材料聲速隨溫度變化。測量高溫工件時，需使用高溫探頭并注意聲速補償，或等待工件冷卻至儀器允許范圍。
- 干擾與材料：粗晶材料（如鑄件、奧氏體不銹鋼）可能導致信號衰減和測量不準，需使用低頻探頭。注意識別由材料分層、腐蝕或內(nèi)部缺陷導致的異�；夭ā�
- 設備維護：使用后清潔探頭和儀器，避免磕碰。長期不用應取出電池。定期在標準試塊上驗證儀器精度。
價格說明
超聲波測厚儀的價格受配置（如探頭類型、數(shù)量）、采購渠道、市場需求及品牌政策影響而動態(tài)變化。上海雙旭UM-4的具體價格需向授權經(jīng)銷商或廠家直接咨詢獲取實時報價。通常，具備A掃描功能的型號價格會高于基礎數(shù)字型測厚儀。 |
