供應(yīng)商UM-2D 穿透涂層測厚儀【上海雙旭】
上海雙旭UM-2D穿透涂層測厚儀產(chǎn)品介紹
UM-2D穿透涂層測厚儀是一款由上海雙旭電子有限公司設(shè)計生產(chǎn)的精密測量儀器，專用于在無需剝離非導(dǎo)電涂層（如油漆、塑料、搪瓷等）的情況下，直接、快速、準(zhǔn)確地測量金屬基材（如鋼、鐵、鋁、銅等）的厚度。
產(chǎn)品參數(shù)
- 測量原理：磁感應(yīng)/渦流原理（自動識別基材并切換）。
- 測量范圍：通常為0~2000μm（具體取決于探頭和基材，以實際型號規(guī)格為準(zhǔn)）。
- 顯示分辨率：0.1μm / 1μm。
- 測量精度：±（1~3%讀數(shù)+1~2μm），高精度型號精度更高。
- 最小曲率：凸面5mm，凹面25mm（示例值，實際請參考說明書）。
- 最小測量面積：直徑約20mm。
- 最小基體厚度：約0.5mm（取決于探頭）。
- 探頭類型：一體式或分體式雙功能探頭。
- 校準(zhǔn)方式：零點校準(zhǔn)、兩點校準(zhǔn)或多點校準(zhǔn)。
- 數(shù)據(jù)存儲：通常具備，存儲容量因型號而異。
- 顯示單元：背光液晶顯示屏。
- 電源：AA電池或可充電鋰電池。
- 工作溫度：通常為0℃~40℃。
- 外殼材質(zhì)：工程塑料，防滑防油設(shè)計。
使用注意事項
- 校準(zhǔn)至關(guān)重要：使用前必須在無涂層的同種基材上進(jìn)行零點校準(zhǔn)，并在隨機(jī)的標(biāo)準(zhǔn)片上進(jìn)行量程校準(zhǔn)，以確保測量準(zhǔn)確性。
- 基材特性影響：測量精度受基材的電磁特性（如導(dǎo)磁性、導(dǎo)電性）影響。對于合金或特殊材料，需使用針對該材料的校準(zhǔn)片進(jìn)行校準(zhǔn)。
- 表面與邊緣效應(yīng)：測量點應(yīng)遠(yuǎn)離邊緣、轉(zhuǎn)角、焊縫或劇烈彎曲處，表面應(yīng)清潔、無附著物（如鐵銹、灰塵），以免干擾探頭信號。
- 涂層限制：僅適用于測量非導(dǎo)電涂層下的金屬基材厚度。無法測量導(dǎo)電涂層（如電鍍層）或多層涂層中的某一層。
- 探頭保護(hù)：測量時保持探頭垂直于被測表面，避免磨損或撞擊探頭晶片。使用后清潔探頭并蓋上保護(hù)蓋。
- 溫度穩(wěn)定性：避免在劇烈溫度變化的環(huán)境中使用，儀器和被測物應(yīng)與環(huán)境溫度一致，以減少熱脹冷縮帶來的誤差。
- 電磁干擾：遠(yuǎn)離強(qiáng)磁場、強(qiáng)電場或大型機(jī)電設(shè)備，以防讀數(shù)不穩(wěn)定。
- 電池管理：電量不足時及時更換電池，低電壓可能導(dǎo)致測量誤差或儀器故障。
- 定期驗證：對于關(guān)鍵測量，應(yīng)定期使用標(biāo)準(zhǔn)片驗證儀器精度，并按照制造商建議進(jìn)行維護(hù)。
注：以上參數(shù)和注意事項為通用描述，具體請以上海雙旭提供的UM-2D型號官方說明書為準(zhǔn)。操作前務(wù)必仔細(xì)閱讀說明書。
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