【上海雙旭】DMS-1500E暗箱式平面顯示光學特性測試系統(tǒng)
上海雙旭 DMS-1500E 暗箱式平面顯示光學特性測試系統(tǒng)
產(chǎn)品概述
DMS-1500E是一款暗箱式平面顯示光學特性測試系統(tǒng)，專為各類平板顯示器（如LCD、OLED、Mini/Micro-LED）的光學性能測量而設計。該系統(tǒng)集成高精度光譜輻射計、精密機械運動平臺和專用分析軟件，可在暗箱環(huán)境中實現(xiàn)精準、可重復的自動化測試。
產(chǎn)品參數(shù)
- 測量對象：LCD, OLED, Mini-LED, Micro-LED等平面顯示器件。
- 測量參數(shù)：
- 亮度（Luminance）
- 色度坐標（CIE x, y; u , v ）
- 色溫（CCT）
- 對比度
- 均勻性（亮度/色度）
- 視角特性（需搭配選配的轉(zhuǎn)臺）
- 光譜功率分布
- 核心探測器：高精度成像式光譜輻射計或快速光譜輻射計。
- 測量速度：依據(jù)配置和測量模式，通常單點測量時間在毫秒至秒級。
- 軟件系統(tǒng)：提供專用控制與分析軟件，支持自動化測試序列、數(shù)據(jù)報表生成及SPC統(tǒng)計分析。
- 系統(tǒng)結(jié)構(gòu)：一體化暗箱設計，內(nèi)置防震平臺，有效屏蔽環(huán)境光干擾。
- 尺寸與重量：具體尺寸請參考官方技術文檔，系統(tǒng)為臺式集成設計。
使用注意事項
- 環(huán)境要求：系統(tǒng)應在無強電磁干擾、溫度穩(wěn)定（如23±5°C）、潔凈的實驗室環(huán)境中使用。暗箱門需確保關閉以隔絕外部光線。
- 校準：使用前必須按照操作手冊進行系統(tǒng)校準（包括光譜和亮度校準），并定期執(zhí)行校準以確保測量精度。
- 樣品放置：待測顯示屏應穩(wěn)定固定于樣品臺，確保測試面與探測器光學軸線垂直（除非進行視角測試）。
- 設備預熱：開機后，光譜儀等核心部件需預熱規(guī)定時間（通常30分鐘以上），待性能穩(wěn)定后再進行精密測量。
- 操作安全：避免直視顯示屏的強光或激光（若測試相關樣品）。移動部件運行時，勿將身體任何部位伸入暗箱內(nèi)。
- 軟件與數(shù)據(jù)：嚴格按照軟件流程操作，非正常退出可能導致數(shù)據(jù)丟失或設備異常。定期備份測量數(shù)據(jù)和配置文件。
- 維護：保持暗箱內(nèi)部清潔，避免灰塵污染鏡頭或標準板。鏡頭清潔需使用專業(yè)工具和方法，不可用手或普通布料擦拭。
- 供電：確保電源電壓穩(wěn)定，建議使用穩(wěn)壓電源或UPS，突然斷電可能導致測量中斷或硬件損壞。
注：以上信息基于通用產(chǎn)品描述，具體技術規(guī)格、操作細節(jié)及安全須知請務必查閱隨設備提供的官方《用戶手冊》或聯(lián)系上海雙旭獲取最新資料。 |
