涂層測厚儀 AT-230
上海雙旭涂層測厚儀 AT-230 產(chǎn)品介紹
產(chǎn)品概述：上海雙旭涂層測厚儀 AT-230 為便攜式電磁/渦流雙原理測厚設(shè)備，適用于測量磁性金屬基體上的非磁性覆蓋層厚度及非磁性金屬基體上的非導(dǎo)電覆蓋層厚度。廣泛用于汽車、造船、冶金、化工、五金加工、檢測機(jī)構(gòu)等行業(yè)的涂層質(zhì)量控制。
產(chǎn)品參數(shù)
- 測量原理：磁性法（Fe）、渦流法（NFe）雙模式自動識別
- 測量范圍：0~1250μm（Fe）、0~1000μm（NFe）
- 分辨率：0.1μm（0~99.9μm），1μm（≥100μm）
- 示值誤差：±(3%H+1)μm（H為標(biāo)稱值）
- 最小曲率半徑：凸面 5mm，凹面 25mm
- 最小測量面積：直徑Φ10mm
- 基體最小厚度：Fe≥0.5mm，NFe≥0.3mm
- 顯示方式：128×64點(diǎn)陣LCD背光顯示屏
- 存儲容量：可存儲500組測量數(shù)據(jù)（含時間、模式、數(shù)值）
- 電源：2節(jié)AA堿性電池或鎳氫充電電池（DC 3V）
- 工作溫度：-10℃~+40℃，濕度≤85%RH
- 尺寸/重量：約150×70×30mm，約200g（不含電池）
- 標(biāo)準(zhǔn)配置：主機(jī)、校準(zhǔn)片組、探頭保護(hù)套、便攜軟包、說明書、合格證
功能特點(diǎn)
AT-230 具備自動識別基材類型（Fe/NFe）并切換測量模式，支持單次/連續(xù)測量，具有零點(diǎn)校準(zhǔn)、二點(diǎn)校準(zhǔn)和基本校準(zhǔn)功能。內(nèi)置數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)功能可顯示最大值、最小值、平均值及標(biāo)準(zhǔn)差，方便批量分析。探頭耐磨設(shè)計(jì)適應(yīng)頻繁現(xiàn)場測量，低功耗電路保證長時間續(xù)航。
使用注意事項(xiàng)
- 測量前確認(rèn)基體材質(zhì)與所選模式匹配，磁性金屬選Fe模式，非磁性金屬選NFe模式，否則讀數(shù)無效。
- 被測表面須清潔、平整、無油污、氧化皮及明顯凹凸，否則影響精度。
- 探頭應(yīng)與被測面保持垂直，輕觸不施加過大壓力，避免探頭磨損及讀數(shù)漂移。
- 在曲面或狹小區(qū)域測量時，注意滿足最小曲率半徑與測量面積要求，必要時更換專用小探頭。
- 每次使用前建議進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn)；更換基體或環(huán)境溫差大時應(yīng)重新校準(zhǔn)。
- 避免在強(qiáng)磁場、高頻振動及高溫高濕環(huán)境下使用，防止干擾或損壞元件。
- 長期不用應(yīng)取出電池，防止漏液腐蝕內(nèi)部電路。
- 探頭為精密部件，禁止摔落、碰撞或自行拆卸，損壞需返廠維修。
- 測量數(shù)據(jù)僅作參考，需定期用標(biāo)準(zhǔn)厚度片驗(yàn)證儀器準(zhǔn)確性。
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